题名	责任者	出版社	索书号
2007年度ADI中国大学创新设计竞赛优秀论文选编	竞赛组委会编	电子工业出版社	TN602-53/564
电子元器件可靠性设计	王蕴辉，于宗光，孙再吉主编	科学出版社	TN602/149