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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:26

题名/责任者:
Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures/Carlo Lamberti著
版本说明:
影印版
出版发行项:
北京:科学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-03-026969-0 精装/CNY135.00
载体形态项:
486页:图;25cm
并列正题名:
半导体异质结构与纳米结构表征
丛编项:
科爱传播.化学化工
丛编项:
纳米科学进展系列
个人责任者:
兰伯蒂 (Lamberti, Carlo)
学科主题:
半导体材料-异质结-英文
学科主题:
半导体材料-纳米材料-结构-英文
中图法分类号:
TN304
书目附注:
有书目和索引
提要文摘附注:
本书主要讨论了用于确定半导体量子阱和超晶格结构性质(结构、物理、化学、电气等)的专门表征技术。此外,介绍了采用第一原理进行的模拟、建模方法,以及异质结构的电学与光学特性。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304/8241 71603757  - 密集书库126(2F咨询台委托借阅) M0060645     可借 密集书库126(2F咨询台委托借阅)
TN304/8241 71603758  - 自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
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