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MARC状态：审校 文献类型：西文图书 浏览次数：78

题名/责任者:
Amplitude modulation atomic force microscopy / by Ricardo Garcia.
出版发行项:
Weinheim : Wiley-VCH ; Chichester : John Wiley [distributor], 2010.
ISBN:
9783527408344 (hbk.)
ISBN:
3527408347 (hbk.)
载体形态项:
xiv, 179 p. : ill. ; 25 cm.
个人责任者:
Castro Garcia, Ricardo.
论题主题:
Atomic force microscopy.
论题主题:
Amplitude modulation.
中图法分类号:
TH742
书目附注:
Includes bibliographical references (p. 139-173) and index.
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TH742/BG1 40040086   外文书库(外文原版)（11F）     在编
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