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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:47

题名/责任者:
抗辐射集成电路概论/韩郑生编著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2011.04
ISBN及定价:
978-7-302-24547-6/CNY30.00
载体形态项:
17, 202页:图;26cm
并列正题名:
Introduction to radiation hardened integrated circuit
丛编项:
微电子与集成电路技术丛书
个人责任者:
韩郑生 编著
学科主题:
抗辐射性-集成电路
中图法分类号:
TN4
书目附注:
有书目 (第200-202页)
提要文摘附注:
本书论述抗辐射集成电路方面的知识。全书共10章, 主要内容包括辐射环境、辐射效应、抗辐射双极集成电路设计等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN4/482 71744864  - 自然书库(3F东)     可借 现代技术部(1F)
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