杭州电子科技大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界/刘斌著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-121-33901-1/CNY99.00

载体形态项:

xxii, 538页:图;26cm

并列正题名:

Walking guide to SoC verification: the panorama of verification from system to UVM

其它题名:

从系统理论到UVM的验证全视界

个人责任者:

刘斌 著

学科主题:

集成电路-芯片-验证-指南

中图法分类号:

TN407

相关题名附注:

英文并列题名取自封面

责任者附注:

刘斌，男，“路科验证”创始人。目前是Intel移动通信事业部的资深验证专家。本科毕业于西安交通大学微电子专业，并在瑞典皇家理工学院取得了芯片设计专业硕士学位。

书目附注:

有书目 (第537-538页)

提要文摘附注:

本书介绍芯片验证，从验证的理论，到System Verilog语言和UVM验证方法学，再到高级验证项目话题。针对芯片验证领域不同级别的验证工程师，给出了由浅入深的技术指南：学习验证理论来认识验证流程和标准，学习System Verilog语言和UVM验证方法学来掌握目前主流的动态验证技术，了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。

使用对象附注:

本书适用于高校集成电路相关专业学生使用，可以作为芯片验证课程的教材，也适用于验证人员提高自身能力学习之用。

豆瓣简介：