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Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

Residual stresses and nanoindentation testing of films and coatings/Haidou Wang, Lina Zhu, Binshi Xu

出版发行项:

北京:科学出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-03-056731-4 精装/CNY120.00

载体形态项:

207页:图;25cm

个人责任者:

王海斗 著

个人责任者:

朱丽娜 著

个人责任者:

徐滨士 著

学科主题:

薄膜应力-纳米技术-压痕-检测-英文

中图法分类号:

O343

一般附注:

Springer

责任者附注:

责任者Haidou Wang规范汉译姓: 王海斗; 责任者Lina Zhu规范汉译姓: 朱丽娜; 责任者Binshi Xu规范汉译姓: 徐滨士

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术, 深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷, 并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。所取材料主要是来自作者近年来的最新研究成果以及该领域同行学者的重要研究内容。

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