MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：19
- 题名/责任者:
- 嵌入式系统可靠可靠性设计/李伯成编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2006.1
- ISBN及定价:
- 7-121-02123-4/CNY28.00
- 载体形态项:
- 252页;26cm
- 丛编项:
- 嵌入式系统与单片机系列丛书
- 个人责任者:
- 李伯成 编著
- 学科主题:
- 微型计算机-系统可靠性-系统设计
- 中图法分类号:
- TP360.21
- 一般附注:
- “十五”国家重点图书出版规划项目
- 提要文摘附注:
- 全书共7章，内容包括：嵌入式系统可靠性概述，嵌入式系统电子元器件的可靠性，故障检测技术，嵌入式系统的电磁兼容性设计，嵌入式系统软件的可靠性设计，嵌入式系统的可靠性总体设计，系统的维修性工程。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP360.21/425 | 70884029 |  临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP360.21/425 | 70884030 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP360.21/425 | 70884031 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP360.21/425 | 70884032 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP360.21/425 | 70884033 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP360.21/425 | 70884028 | 样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 |
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