- 题名/责任者:
- Characterization of semiconductor heterostructures and nanostructures/Carlo Lamberti著
- 版本说明:
- 影印版
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-026969-0 精装/CNY135.00
- 载体形态项:
- 486页:图;25cm
- 并列正题名:
- 半导体异质结构与纳米结构表征
- 丛编项:
- 科爱传播.化学化工
- 丛编项:
- 纳米科学进展系列
- 个人责任者:
- 兰伯蒂 (Lamberti, Carlo) 著
- 学科主题:
- 半导体材料-异质结-英文
- 学科主题:
- 半导体材料-纳米材料-结构-英文
- 中图法分类号:
- TN304
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书主要讨论了用于确定半导体量子阱和超晶格结构性质(结构、物理、化学、电气等)的专门表征技术。此外,介绍了采用第一原理进行的模拟、建模方法,以及异质结构的电学与光学特性。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN304/8241 | 71603757 | - | 密集书库126(2F咨询台委托借阅) M0060645 | 可借 | 密集书库126(2F咨询台委托借阅) |
TN304/8241 | 71603758 | - | 自然书库(3F东) | 可借 | 自然书库(3F东) |
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