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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:28

题名/责任者:
VLSI的统计分析和优化: 时序和功耗:[英文版]/Srivastava Ashish,Sylvester Dennis,Blaauw David
版本说明:
影印版
出版发行项:
北京:科学出版社,2007
ISBN及定价:
978-7-03-018850-2/CNY42.00
载体形态项:
279页:图表;24cm
并列正题名:
Statistical analysis and optimization for VLSI: timing and power
丛编项:
国外电子信息精品著作
个人责任者:
(美) 安歇斯 (Ashish, Srivastava) 著
个人责任者:
丹尼斯 (Dennis, Sylvester)
个人责任者:
戴维 (David, Blaauw)
学科主题:
超大规模集成电路-电路设计-英文
学科主题:
超大规模集成电路
学科主题:
电路设计
中图法分类号:
TN470.2
题名责任附注:
CIP题责任者Ashish汉译姓:安歇斯;编目员自译责任者Dennis汉译姓:丹尼斯;责任者David汉译姓:戴维
书目附注:
本书第265-276页附有书目,后还附索引。
提要文摘附注:
本书介绍了集成电路的统计CAD工具的相关知识。主要面向CAD工具开发人员、集成电路工艺技术人员,以及相关学科的学生和研究人员。书中介绍了统计时序和功耗分析技术中的最新研究成果,并结合参数化的产量作为设计过程中的主要目标函数。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN470.2/364 71177250  - 自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
TN470.2/364 71177251  - 自然书库(3F东)     可借
TN470.2/364 71177252  - 自然书库(3F东)     可借
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