| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：69

题名/责任者:
薄膜结构X射线表征/麦振洪等著
版本说明:
2版
出版发行项:
北京:科学出版社,2015
ISBN及定价:
978-7-03-044195-9/CNY148.00
载体形态项:
15,404页:图;24cm
丛编项:
现代应用物理学丛书
个人责任者:
麦振洪 著
学科主题:
薄膜结构-X射线衍射
中图法分类号:
O434
提要文摘附注:
本书系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例等内容。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
O434/553 72092880  - 自然科学第二书库（7F）     可借 现代技术部（1F）
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架