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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:124

题名/责任者:
FPGA芯片设计与测试技术研究/张惠国, 顾涵著
出版发行项:
苏州:苏州大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-5672-3899-2/CNY59.00
载体形态项:
196页:图;24cm
并列正题名:
Research on FPGA chip design and test technology
个人责任者:
张惠国
个人责任者:
顾涵
学科主题:
可编程序逻辑器件-研究
中图法分类号:
TP332.1
书目附注:
有书目 (第176-178页)
提要文摘附注:
本书围绕基于SRAM的FPGA, 基于岛状的架构, 对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计, 并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络, 同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识, 涉及了FPGA芯片涉及的多个方面, 可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识, 提升对FPGA器件的设计和应用能力。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP332.1/1561 72451152   自然书库(3F东)     借出-应还日期:2024-05-21 自然书库(3F东)
TP332.1/1561 72451153   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
TP332.1/1561 72451154   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
TP332.1/1561 72451155   自然书库(3F东)     可借 自然书库(3F东)
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