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题名/责任者:

太赫兹光电测试技术/谭智勇, 曹俊诚著

出版发行项:

上海:华东理工大学出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-5628-6102-7 精装/CNY278.00

载体形态项:

254页:彩图;24cm

并列正题名:

Terahertz photoelectric measurement technology

丛编项:

战略前沿新技术—太赫兹出版工程

个人责任者:

谭智勇 著

个人责任者:

曹俊诚 著

学科主题:

电磁辐射-研究

学科主题:

光电检测-测试技术

中图法分类号:

O441.4

一般附注:

上海出版资金项目

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发, 介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点, 阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点, 最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。

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