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题名/责任者:

嵌入式处理器片上追踪调试技术/扈啸, 王耀华, 阮喻著

出版发行项:

长沙:国防科技大学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-5673-0580-9/CNY49.00

载体形态项:

199页:图;24cm

并列正题名:

On-chip trace debug for embedded processor

个人责任者:

扈啸 著

个人责任者:

王耀华 著

个人责任者:

阮喻 著

学科主题:

微处理器-调试方法

中图法分类号:

TP332

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书以片上追踪(片上trace)调试技术为对象，基于可观测性的调试原理，论述了片上trace的必要性、基本概念和原理、体系结构关键技术以及应用技术。介绍了调试技术的相关研究，讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上trace技术的原理、优势和实现模型进行了分析，对片上信息采集压缩、trace数据流的片上传输结构、trace辅助调试调优应用以及程序控制流错误的在线检测等技术进行了研究，并对如何设计实现一套完整的多核片上trace调试系统进行了详述。

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