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题名/责任者:

嵌入式系统中的辐射效应/(法) 拉乌尔·委拉兹克, (法) 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯等著 黄云 ... [等] 译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2018

ISBN及定价:

978-7-111-58286-1/CNY79.00

载体形态项:

xi, 234页:图;24cm

统一题名:

Radiation effects on embedded systems

丛编项:

国际电气工程先进技术译丛

个人责任者:

委拉兹克 (Velazco, Raoul) 著

个人责任者:

弗埃雷特 (Fouillat, Pascal) 著

个人责任者:

赖斯 (Reis, Ricardo) 著

个人次要责任者:

黄云 译

学科主题:

微型计算机-系统设计

中图法分类号:

TP360.21

出版发行附注:

由Springer出版社授权出版 本书限中国大陆发行

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

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