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题名/责任者:

混合信号集成电路测试与测量/(美)Mark Burns，(美)Gordon W. Roberts等著 冯建华，肖钢等译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2009

ISBN及定价:

978-7-121-08293-1/CNY69.00

载体形态项:

531页:图;26cm

并列正题名:

Introduction to mixed-signal IC test and measurement

丛编项:

国外电子与通信教材系列

个人责任者:

(美) 伯恩斯 (Burns, Mark) 著

个人责任者:

(美) 罗伯茨 (Roberts, Gordon W.) 著

个人次要责任者:

冯建华 译

个人次要责任者:

肖钢 译

学科主题:

混合集成电路-测试技术-教材

中图法分类号:

TN450.7

版本附注:

本书中文简体版由美国Oxford University Press授权出版

责任者附注:

责任者Burns规范汉译姓：伯恩斯；责任者Roberts规范汉译姓：罗伯茨

提要文摘附注:

本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点并参考大量的文献撰写的。本书共分为16章，内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试等。

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