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题名/责任者:

功率器件热可靠性检测与分析技术/万博，付桂翠编著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-118-13085-0/CNY118.00

载体形态项:

12,284页:图，照片;24cm

并列正题名:

Thermal reliability testing and analysis techniques for power electronic devices

丛编项:

可靠性新技术丛书.可靠性物理与失效分析

个人责任者:

万博 编著

个人责任者:

付桂翠 编著

学科主题:

功率半导体器件-可靠性-研究

中图法分类号:

TN303

一般附注:

“十三五”国家重点出版物出版规划项目

提要文摘附注:

本书围绕功率器件在高温和温度变化下的热可靠性这一主题，对功率器件基本概念、热相关可靠性检测、试验和分析进行了介绍。

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