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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:99

题名/责任者:
集成电路电源完整性分析与管理/(美) Rajendran Nair, Donald Bennett主编 贺雅娟, 罗萍等译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2013
ISBN及定价:
978-7-121-21804-0/CNY58.00
载体形态项:
14, 229页;26cm
统一题名:
Power integrity analysis and management for integrated circuits
丛编项:
国外电子与通信教材系列
个人责任者:
奈尔 (Nair, Rajendran) 主编
个人责任者:
贝内特 (Bennett, Donald) 主编
个人次要责任者:
贺雅娟
个人次要责任者:
罗萍
学科主题:
集成电路-电源电路-教材
中图法分类号:
TN86
版本附注:
本书中文简体字翻译版由Pearson Education授予电子工业出版社
责任者附注:
Rajendran Nair,男,他建立了ComLSI和Anasim两家公司,主要研发先进的用语ULSI电源完整性分析及管理的专利技术和软件工具,同时也提供IC设计以及电源完整性相关的技术咨询服务。
责任者附注:
Donald Bennett,男,博士,器件物理学家。
责任者附注:
责任者Nair规范汉译姓: 奈尔 ; Bennett规范汉译姓: 贝内特
提要文摘附注:
本书全面论述了电源完整性问题,特别是在纳米级工艺下系统芯片的电源完整性的基本概念,揭示了其对于集成电路系统的重要意义,讨论了电源完整性问题在小工艺线宽下所遇到的种种挑战,以及为解决这些问题所引入的先进分析方法、管理技术及可用于设计前期的具有突破性的实用工具。
使用对象附注:
本书可作为相关专业本科生及研究生的教学指导用书。同时与其他大多数同类书籍相比,该书更强调直观理解、实用工具和工程实践,因而对于工作在纳米级工艺下,负责信号完整性、电源完整性、硬件设计、系统设计的工程师而言将是不可或缺的参考资料。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN86/4201 71906968  - 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
TN86/4201 71906969  - 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
TN86/4201 71906970  - 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
TN86/4201 71899934  - 自然书库(3F东)     可借 总借还书处(2F)
TN86/4201 71899935  - 自然书库(3F东)     可借 现代技术部(1F)
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