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题名/责任者:

LabVIEW与天线测量技术/马玉丰 ... [等] 编著

出版发行项:

西安:西安电子科技大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5606-6841-3/CNY49.00

载体形态项:

256页:图;26cm

丛编项:

天线测试技术丛书

个人责任者:

马玉丰 编著

个人责任者:

刘灵鸽 编著

个人责任者:

张启涛 编著

个人责任者:

王宇 编著

学科主题:

软件工具-程序设计

学科主题:

微波天线-测量技术

中图法分类号:

TP311.561

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 刘灵鸽, 张启涛, 王宇

书目附注:

有书目 (第256页)

提要文摘附注:

本书共15章, 可分为三大部分。第1章-第10章为基础篇, 介绍了LabVIEW的基础知识, 包括前面板、后面板、程序模块、函数、数据格式、循环与事件结构、文件I0、画图与显示、MAX与仪器驱动接口、VI显示设置与美化、程序代码的保护、生成可执行与安装程序。第11章、第12章为高级篇, 介绍了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章-第15章为进阶篇, 介绍了天线测试系统集成相关知识。通过对这三大部分的学习, 读者能了解到天线测试参数、天线测试系统组成, 测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识, 这些都是一名天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。

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