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题名/责任者:

The kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution/马宗敏著

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-302-53953-7 精装/CNY89.00

载体形态项:

219页:图;25cm

并列正题名:

高灵敏及高分辨KPFM及其相关技术

丛编项:

纳米光子学丛书

个人责任者:

马宗敏 著

学科主题:

微探针分析-英文

学科主题:

电子显微术-英文

中图法分类号:

O657.99

责任者附注:

马宗敏, 教授, 主要从事超高分辨精密测量、固态量子传感等方向的研究工作。提出了铁磁共振磁交换力显微镜方法, 建立了基于塞曼分裂的铁磁共振磁交换力显微系统模型。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书介绍了AFM、KPFM及其相关技术的原理、成像特点以及应用范围 ; 重点介绍了常温低温AFM、KPFM等仪器关键技术及搭建难点, 及运用上述仪器取得的典型成果 ; 并介绍了极端环境 (超低温、超高真空) 下AFM在氧化物表面的探针修饰、原子识别技术成果 ; 针对在KPFM测量过程中出现的杂散电容效应及幻影力作用, 提出了抑制上述两种效应的外差调幅KPFM、无反馈KPFM方法, 并给出了这两种方法的原理及实验效果。

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