MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：52
- 题名/责任者:
- 材料现代测试分析方法/刘庆锁主编
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2014.9
- ISBN及定价:
- 978-7-302-37444-2/CNY39.00
- 载体形态项:
- 328页:图;26cm
- 个人责任者:
- 刘庆锁 主编
- 学科主题:
- 材料-测试-分析方法
- 中图法分类号:
- TB302
- 书目附注:
- 有书目 (第327-328页)
- 提要文摘附注:
- 本书包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TB302/008 | 72001219 | - |  自然科学第二书库（7F）
|
可借 | 现代技术部（1F） |
| TB302/008 | 72001220 | - | 自然科学第二书库（7F）
|
可借 | 总借还书处（2F） |
| TB302/008 | 72001221 | - | 自然科学第二书库（7F）
|
可借 |
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