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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：28

题名/责任者:
电气测试技术/林德杰等编
出版发行项:
北京:机械工业出版社,1996.7
ISBN及定价:
7-111-04819-9/￥24.00
载体形态项:
353页;26cm
个人责任者:
林德杰等编 著
中图法分类号:
TM930
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TM930/424 70292243   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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TM930/424 70292241   文一密集（批次1）（非可借）     非可借 文一密集（批次1）（非可借）
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TM930/424 70317837   文一密集（批次1）（非可借）     非可借 文一密集（批次1）（非可借）
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TM930/424 70292240   样本书阅览室（密集书库136）     非可借
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