MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：41
- 题名/责任者:
- 软件性能测试过程详解与案例剖析/段念编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2006.8
- ISBN及定价:
- 7-302-13177-5/CNY28.00
- 载体形态项:
- 12,279页;23cm
- 个人责任者:
- 段念 编著
- 学科主题:
- 软件-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书对软件性能测试这个主题进行了较为全面的介绍和分析。全书分为两篇；基础篇和实践篇，共9章，本书重点不在于介绍性能测试工具，而是侧重于测试的过程模型PTGM，并在书中用4个各具特色的生动案例演示了PTGM模型的实际应用。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP311.5/780 | 70973823 |  临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973826 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973828 | 临安密4(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973824 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973825 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973827 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP311.5/780 | 70973822 | 文一密集（批次1）（非可借）
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非可借 | ||
| TP311.5/780 | 70973821 | 样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 |
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