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题名/责任者:

空间电子仪器单粒子效应防护技术/王跃科 ... [等] 著

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2010

ISBN及定价:

978-7-118-07208-2 精装/CNY65.00

载体形态项:

xxv, 354页:图;21cm

并列正题名:

Single event effect mitigation techniques for space electronic instrument

个人责任者:

王跃科 著

个人责任者:

邢克飞 著

个人责任者:

杨俊 著

学科主题:

超大规模集成电路-电子仪器-粒子-防护

中图法分类号:

TM93

题名责任附注:

题名页题: 王跃科, 邢克飞, 杨俊, 张传胜著

出版发行附注:

本书由国防科技图书出版基金资助出版

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书以空间电子仪器处理平台中最常用且对SEE最敏感的FPGA和DSP作为研究对象, 针对日益迫切的单粒子效应防护设计问题, 从器件应用这样一个全新的层面, 研究了FPGA和DSP的单粒子效应故障分析模型与故障特性、空间电子仪器高可靠体系结构、单粒子效应故障检测与加固技术和基于单粒子效应故障特性的故障注入验证技术。

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