MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:37
- 题名/责任者:
- 电子探针X射线显微分析仪/(日)内山郁等著 ;刘济民译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,1982.2
- ISBN及定价:
- 7-118/¥1.05
- 载体形态项:
- 250页;20cm
- 个人责任者:
- (日)内山郁等著 ;刘济民译 著
- 中图法分类号:
- TN153
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TN153/424 | 70080269 | 文一密集样本(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70104896 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70104926 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70104986 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70232553 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70233039 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70233044 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70233049 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70233054 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | |
TN153/424 | 70233059 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 |
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