MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：50
- 题名/责任者:
- 硬件电路与产品可靠性设计/朱波编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-302-61372-5/CNY69.00
- 载体形态项:
- 258页:图;24cm
- 个人责任者:
- 朱波 编著
- 学科主题:
- 硬件-电子电路-电子产品可靠性-电路设计
- 中图法分类号:
- TN702
- 责任者附注:
- 朱波, 从事硬件电路和产品设计工作20余年, 担任过硬件工程师、硬件总监等职务, 在电路可靠性设计方面积累了丰富的实战经验。主导设计过的产品, 市场销售累计上千万台, 产品可靠性高, 在行业内处于领先位置。
- 提要文摘附注:
- 全书共分为6章: 第1章是器件选型可靠性设计, 详细讲述了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法; 第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计; 第3章梳理了产品的硬件测试, 分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试; 第4章叙述了PCB可靠性设计, 详细讲解了PCB器件布局和PCB走线设计; 第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计, 重点讲解了产品研发各阶段的评审内容; 第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例, 完整地讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN702/2302 | 60282601 |  临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN702/2302 | 60282602 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN702/2302 | 72500059 | 集贤居（后勤）
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非可借 | 集贤居（后勤） | |
| TN702/2302 | 72500060 | 集贤居（后勤）
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非可借 | 集贤居（后勤） | |
| TN702/2302 | 72500057 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN702/2302 | 72500058 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） |
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