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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:57

题名/责任者:
公差配合与技术测量/主编张文革, 石枫
出版发行项:
北京:北京理工大学出版社,2010
ISBN及定价:
978-7-5640-3627-0/CNY45.00
载体形态项:
368页, [2] 页图版:图;24cm
丛编项:
面向“十二五”高等教育课程改革项目研究成果
个人责任者:
张文革 主编
个人责任者:
石枫 主编
学科主题:
公差-配合-高等学校-技术学校-教材
学科主题:
技术测量-高等学校-技术学校-教材
中图法分类号:
TG801
书目附注:
有书目 (第367-368页)
提要文摘附注:
本书内容包括: 极限与配合基础; 技术测量基础; 形状和位置公差及检测; 表现粗糙度及测量; 光滑工件尺寸的检验与光滑极限量规设计; 常用典型结合的公差及其检测等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TG801/1041 71634295  - 密集书库126(2F咨询台委托借阅) M0016926     可借 密集书库126(2F咨询台委托借阅)
TG801/1041 71634298  - 密集书库126(非可借)     非可借 密集书库126(非可借)
TG801/1041 71634294  - 自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
TG801/1041 71634296  - 自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
TG801/1041 71634297  - 自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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