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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：25

题名/责任者:
微电子器件可靠性/史保华等编著
出版发行项:
西安:西安电子科技大学出版社,1999.4
ISBN及定价:
7-5606-0719-5/￥13.00
载体形态项:
182页;26cm
个人责任者:
史保华等编著 著
中图法分类号:
TN103
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN103/522 70366627   文一密集（批次2）（非可借）     非可借
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TN103/522 70366630   密集书库124（非可借）     非可借
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