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题名/责任者:

材料的透射电子显微学与衍射学/(美)布伦特·福尔兹(Brent Fultz)，(美)詹姆斯·豪(James Howe)著 吴自勤[等]译

出版发行项:

合肥:中国科学技术大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-312-03749-8/CNY99.00

载体形态项:

11,657页;24cm

并列正题名:

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

个人责任者:

(美) 福尔兹 (Fultz, Brent) 著

个人责任者:

(美) 豪 (Howe, James) 著

个人次要责任者:

吴自勤 译

学科主题:

工程材料-透射电子显微术

学科主题:

工程材料-X射线衍

中图法分类号:

TB302

提要文摘附注:

本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜(TEM)和X-射线衍射(XRD)。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理，以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别，并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。

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