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题名/责任者:

光电子器件微波封装和测试/祝宁华著

出版发行项:

北京:科学出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-03-019198-4/CNY48.00

载体形态项:

292页;24cm

并列正题名:

Microwave design and characterization of optoelectronics devices and packaging

丛编项:

半导体科学与技术丛书

个人责任者:

祝宁华 著

学科主题:

光电器件-测试技术

学科主题:

光电器件-封装工艺

中图法分类号:

TN15

一般附注:

中国科学院科学出版基金资助出版 “十一五”国家重点图书出版规划项目

提要文摘附注:

本书内容包括：半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法等。

电子资源:

http://www.bookuu.com/kgsm/ts/2007/07/19/1142483.shtml

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