MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:29
- 题名/责任者:
- 电子学系统辐射效应与加固技术/许献国, 曾超著
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2023
- ISBN及定价:
- 978-7-5767-0540-9 精装/CNY128.00
- 载体形态项:
- 390页:图;24cm
- 丛编项:
- 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作
- 个人责任者:
- 许献国 著
- 个人责任者:
- 曾超 著
- 学科主题:
- 电子器件-辐射效应-研究
- 学科主题:
- 电子器件-抗辐射性-研究
- 中图法分类号:
- TN602
- 一般附注:
- 国家出版基金资助项目
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用, 以及电子元器件的辐射效应 ; 第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试, 以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真 ; 第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN602/346 | 72564303 | ![]() |
可借 | 自然书库(3F东) | |
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