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题名/责任者:

工程纳米测量基础/(英) 理查德·利奇著 袁道成 ... [等] 译

版本说明:

第2版

出版发行项:

杭州:浙江大学出版社,2017

ISBN及定价:

978-7-308-17563-0/CNY98.00

载体形态项:

300页:图;24cm

统一题名:

Fundamental principles of engineering nanometrology

个人责任者:

利奇 (Leach, Richard) 著

个人次要责任者:

袁道成 译

学科主题:

纳米技术-应用-精密工程测量

中图法分类号:

TB22

责任者附注:

理查德·利奇 (Richard Leach)，诺丁汉大学测量学教授。主要研究方向为表面形貌测量、精密增材制造3D结构测量方法、工业应用大型表面高分辨率控制方法、X射线CT成像技术等。

责任者附注:

袁道成，中国工程物理研究院机械制造工艺研究所研究员。主要研究方向为精密测量技术应用、误差理论、位移传感器等。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基础知识、精密测量仪器设计原则、长度测量溯源、位移测量、表面形貌测量仪器、扫描探针和粒子束显微镜、表面形貌特征描述、坐标测量、质量和力的测量的测量国际单位及其在NPL的实现等。

使用对象附注:

本书可作为测量技术、机械设计和机械加工等相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员的参考用书，也可用作高校相关专业的基础教材。

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