MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：48
- 题名/责任者:
- UVM芯片验证技术案例集/马骁编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-302-65854-2/CNY119.00
- 载体形态项:
- 20,424页:图;24cm
- 丛编项:
- 计算机技术开发与应用丛书
- 个人责任者:
- 马骁 编著
- 学科主题:
- 芯片-验证
- 中图法分类号:
- TN43
- 提要文摘附注:
- 本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书，包括对多种实际问题场景下的解决专题，推荐作为UVM的进阶教材进行学习。不同于带领读者学习UVM的基础用法，本书包括多个专题，每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题，相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤，实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景、解决的思路、基本原理、步骤，并给出了示例代码以供参考。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN43/770 | 60329360 |  临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN43/770 | 60329361 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
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可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
| TN43/770 | 72581681 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN43/770 | 72581682 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） | |
| TN43/770 | 72581683 | 自然书库（3F东）
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可借 | 自然书库（3F东） |
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