MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：53
- 题名/责任者:
- 半导体物理与测试分析/主编谭昌龙
- 出版发行项:
- 哈尔滨:哈尔滨工业大学出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-5603-3648-0/CNY20.00
- 载体形态项:
- 152页:图;26cm
- 丛编项:
- 电子与通信工程系列
- 个人责任者:
- 谭昌龙 主编
- 学科主题:
- 半导体物理学-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- O47
- 一般附注:
- “十二五”国家重点图书出版规划项目
- 书目附注:
- 有书目 (第151-152页)
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容包括: 半导体的基本性质 ; 半导体中杂质和缺陷能级, 以及硅中位错和层错的观察 ; 平衡态半导体中载流子的统计分面等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| O47/364 | 71840162 | - |  自然科学第二书库（7F）
|
可借 | 总借还书处（2F） |
| O47/364 | 71840163 | - | 自然科学第二书库（7F）
|
可借 | 自然科学第二书库（7F） |
| O47/364 | 71840164 | - | 自然科学第二书库（7F）
|
可借 | 自然科学第二书库（7F） |
| O47/364 | 71840165 | - | 自然科学第二书库（7F）
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可借 | 自然科学第二书库（7F） |
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