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题名/责任者:

透射电子显微学.上册/David B. Williams，C. Barry Carter著 李建奇译

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-04-043150-6 精装/CNY109.00

载体形态项:

592页:图;24cm

并列正题名:

Transmission electron microscopy

个人责任者:

(美) 威廉斯 (Williams, David B.) 著

个人责任者:

(美) 卡特 (Carter, C. Barry) 著

个人次要责任者:

李建奇 译

学科主题:

透射电子显微术-高等学校-教材

中图法分类号:

O766

一般附注:

材料科学经典著作选译

题名责任附注:

英文共同题名：Transmission electron microscopy

版本附注:

据原书第2版译出

提要文摘附注:

本书对透射电子显微镜的构造、实验技术的原理和应用进行了详细介绍。全书共4篇，第1篇主要介绍一些与透射电子显微镜相关的基本概念，包括电子衍射的基础知识、仪器的构造与功能，以及透射电子显微镜样品的制备等；第2篇主要介绍电子衍射的基本原理、不同的电子衍射实验技术，以及对电子衍射的理论描述；第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟；第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。

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