| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:29

题名/责任者:
软件测试:跨越整个软件开发生命周期/(美)Gerald D.Everett, (美)Raymond Mcleod著 郭耀等译
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-302-17862-0/CNY29.00
载体形态项:
15, 214页:图, 表;26cm
并列正题名:
Software testing:testing across the entire software development life cycle
丛编项:
国外经典教材·计算机科学与技术
个人责任者:
(美) 爱弗里特 G.D. (Everett, Gerald D.)
个人责任者:
(美) 迈克利奥德 R. (Mcleod, Raymond)
个人次要责任者:
郭耀
学科主题:
软件工具-测试-教材
中图法分类号:
TP311.5
出版发行附注:
由美国John Wiley & Sons,Inc.公司授权
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
责任者附注:
责任者Everett规范译姓:爱弗里特 责任者Mcleod规范汉译姓:迈克利奥德
书目附注:
有书目(第213-214页)
提要文摘附注:
本书共十五章,内容包括:测试概述、软件开发生命周期、结构化测试概述、测试策略、测试计划、静态测试、功能测试、结构(非功能)测试、性能测试等。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP311.5/256 71364880  - 临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/256 71364881  - 临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/256 71364882  - 临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/256 71364883  - 临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/256 71364884  - 临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架