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题名/责任者:

透射电子显微学:材料科学教材.4卷本/( )威廉斯David B. Williams，C. Barry Carter[著]

版本说明:

影印版

出版发行项:

北京:清华大学出版社,2007

ISBN及定价:

978-7-302-15529-4/CNY89.00

载体形态项:

27,729页:图表;28cm

并列正题名:

Transmission electron microscopy:a textbook for materials science

丛编项:

国外大学优秀教材——材料和学与工程系列

个人责任者:

威廉斯 (Williams, David B.) 著

个人责任者:

卡特 (Carter, C. Barry ) 著

学科主题:

透射电子显微术-高等学校-教材

学科主题:

透射电子显微术

中图法分类号:

O766

题名责任附注:

责任者汉译姓取自CIP

版本附注:

本书英文影印版由Springer-Verlag授权出版

书目附注:

本书附有书目及索引

提要文摘附注:

本卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。

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