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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:53

题名/责任者:
高等仪器分析/王霆,孙铁东编著
出版发行项:
北京:科学出版社,2023
ISBN及定价:
978-7-03-076215-3/CNY98.00
载体形态项:
267页:图;24cm
个人责任者:
王霆 编著
个人责任者:
孙铁东 编著
学科主题:
仪器分析
中图法分类号:
O657
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书围绕分子结构解析和材料表界面研究, 分九章系统介绍了与之相关的各种先进仪器分析方法, 包括: 质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。
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