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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:36

题名/责任者:
材料电子及中子分析技术/朱和国, 黄鸣主编
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-121-44710-5/CNY69.00
载体形态项:
350页:图;26cm
个人责任者:
朱和国 主编
个人责任者:
黄鸣 主编
学科主题:
材料-电子
学科主题:
材料-中子
中图法分类号:
TB3
书目附注:
有书目 (第348-350页)
提要文摘附注:
本书首先介绍了晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用 ; 然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及电子能量损失谱等的原理及其应用 ; 最后介绍了原子探针和中子分析技术。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TB3/226.3 72561120   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
TB3/226.3 72561121   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
TB3/226.3 72561122   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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