MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：20
- 题名/责任者:
- 高频、微波半导体器件的计量测试/曹余录等编著
- 出版发行项:
- 北京:中国计量出版社,162
- ISBN及定价:
- 7-5026-0562-2/￥4.20
- 载体形态项:
- 162页;19cm
- 丛编项:
- 无线电计量测试丛书
- 个人责任者:
- 曹余录等编著 著
- 中图法分类号:
- TB973
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TB973/581 | 70267609 |  文一密集（批次1）（非可借）
|
非可借 | |
| TB973/581 | 70267610 | 文一密集（批次1）（非可借）
|
非可借 | |
| TB973/581 | 70267608 | 自然科学第二书库（7F）
|
非可借 |
显示全部馆藏信息
CADAL相关电子图书
借阅趋势
同名作者的其他著作(点击查看)
收藏到： 管理书架