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MARC状态：已编 文献类型：西文期刊 浏览次数：119

题名/责任者:
Microeletronics and releability.
中图法分类号:
TN4
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN4/EM2*2 00E06792 1992 V.32,NO.9-12 外文过刊合订本库（11F）     非可借
TN4/EM2*2 00E06791 1992 V.32,NO.5-8 外文过刊合订本库（11F）     非可借
TN4/EM2*2 00E06790 1992 V.32,NO.1-4 外文过刊合订本库（11F）     非可借
TN4/EM2*2 00E06789 1991 V.31,NO.4-6 外文过刊合订本库（11F）     非可借
TN4/EM2*2 00E06788 1991 V.31,NO.1-3 外文过刊合订本库（11F）     非可借
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