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题名/责任者:

片上系统设计:design and test/里卡多(Ricardo Reis)等著

版本说明:

影印版

出版发行项:

北京:科学出版社,2007.1

ISBN及定价:

7-03-018239-/CNY45.00

ISBN及定价:

978-7-03-018239-5/CNY45.00

载体形态项:

233页:图;24cm

并列正题名:

片上系统设计

丛编项:

国外电子信息精品著作

个人责任者:

赖斯 R. (Reis, Ricardo) 著

个人责任者:

路巴斯维克 M. (Lubaszewski, Marcelo) 著

个人责任者:

杰斯 J. A. G. (Jess, Jochen A. G.) 著

学科主题:

集成电路-芯片-设计-英文

中图法分类号:

TN402

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面，尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。

使用对象附注:

该学科的专家、教授、研究生，本科生、普通技术人员

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