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- 题名/责任者:
- DEM插值算法适应性理论与方法/张锦明著
- 版本说明:
- 第2版
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2021
- ISBN及定价:
- 978-7-121-42273-7 精装/CNY149.00
- 载体形态项:
- 333页:图 (部分彩图);25cm
- 丛编项:
- 空间建模与可视分析丛书
- 个人责任者:
- 张锦明 著
- 学科主题:
- 地理信息系统-空间信息系统-数字高程模型-数值分析-插值法
- 中图法分类号:
- P208.2
- 相关题名附注:
- 英文并列题名取自封面
- 责任者附注:
- 张锦明, 浙江金华人, 浙江工商大学计算机与信息工程学院副教授, 博士生导师。
- 书目附注:
- 有书目 (第327-333页)
- 提要文摘附注:
- DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分, 原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度都是影响DEM精度的主要因素。插值算法作为其中的直接因素, 地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此, 从影响DEM插值精度的不同因素出发, 研究DEM插值算法的适应性问题, 对降低DEM插值的不确定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意义。本书围绕DEM插值参数、地貌类型适应性、采样数据分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
P208.2/186/2 | 60291051 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | 可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
P208.2/186/2 | 60291052 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | 可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
P208.2/186/2 | 60291053 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | 可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
P208.2/186/2 | 60291054 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | 可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
P208.2/186/2 | 60291055 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | 可借 | 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院) | |
P208.2/186/2 | 72427332 | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 自然科学第二书库(7F) | |
P208.2/186/2 | 72427333 | 自然科学第二书库(7F) | 可借 | 自然科学第二书库(7F) |
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