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- 题名/责任者:
- 工业测控系统的抗干扰技术/葛长虹编著
- 出版发行项:
- 北京:冶金工业出版社,2006.4
- ISBN及定价:
- 7-5024-3912-9/CNY39.00
- 载体形态项:
- 237页;26cm
- 个人责任者:
- 葛长虹 编著
- 学科主题:
- 工业-自动检测系统-抗干扰
- 中图法分类号:
- TP274
- 提要文摘附注:
- 本书分别介绍干扰的产生、干扰波的传播、工业测控系统的电磁干扰抑制、单片机测控系统的抗干扰技术、微机测控系统的抗干扰技术、工业测控系统抗干扰应用等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP274/4451 | 70928494 |  临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP274/4451 | 70928495 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP274/4451 | 70928496 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP274/4451 | 70928497 | 临安密1(信息工程学院)(不可借)
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非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
| TP274/4451 | 70928493 | 样本书阅览室（密集书库136）
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非可借 |
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