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题名/责任者:

光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用/王先培, 黄云光著

出版发行项:

北京:科学出版社,2017.6

ISBN及定价:

978-7-03-053924-3/CNY60.00

载体形态项:

211页;26cm

学科主题:

光谱分析－应用－地理信息系统－故障诊断

中图法分类号:

P208.2

提要文摘附注:

本书主要内容为GIS内部绝缘故障检测及诊断技术，分别设计局部放电、过热缺陷模型并搭建模拟故障平台，以开展两类故障下SF6分解特性对比实验。重点介绍光谱分析技术对SF6分解产物的定性定量检测，局部放电的故障诊断模型以及故障趋势估计建模，最终实现光谱分析技术的GIS故障统一预警。

使用对象附注:

光谱分析人员及相关读者。

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