MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:63
- 题名/责任者:
- 嵌入式软件测试/(美)B.布鲁克曼(Bart Broekman),E.诺特布穆(Edwin Notenboom)著 张君施,张思宇,周承平译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004.1
- ISBN及定价:
- 7-5053-9368-5/CNY35.00
- 载体形态项:
- 10,312页:图;24cm
- 并列正题名:
- Testing Embedded Software
- 个人责任者:
- 布鲁克曼(Bart Broekman) 著
- 个人责任者:
- 诺特布穆(Edwin Notenboom) 著
- 个人次要责任者:
- 张君施 译
- 个人次要责任者:
- 张思宇 译
- 个人次要责任者:
- 周承平 译
- 学科主题:
- 软件工具-测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 版本附注:
- Pearson教育集团所属的Addison-Wesley授权出版
- 提要文摘附注:
- 本书讲述了嵌入式软件测试的一般过程,内容包括结构化测试和嵌入式系统的原理、测试生命周期、重要的应用技术、基础设施、测试组织形式和测试原则。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TP311.5/4244 | 70644062 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70644065 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70819708 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70819711 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密4(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70644063 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70819709 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70819710 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | 非可借 | 临安密1(信息工程学院)(不可借) | |
TP311.5/4244 | 70644064 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | ||
TP311.5/4244 | 70819712 | 文一密集(批次1)(非可借) | 非可借 | ||
TP311.5/4244 | 70644061 | 样本书阅览室(密集书库136) | 非可借 |
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