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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:63

题名/责任者:
嵌入式软件测试/(美)B.布鲁克曼(Bart Broekman),E.诺特布穆(Edwin Notenboom)著 张君施,张思宇,周承平译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2004.1
ISBN及定价:
7-5053-9368-5/CNY35.00
载体形态项:
10,312页:图;24cm
并列正题名:
Testing Embedded Software
个人责任者:
布鲁克曼(Bart Broekman)
个人责任者:
诺特布穆(Edwin Notenboom)
个人次要责任者:
张君施
个人次要责任者:
张思宇
个人次要责任者:
周承平
学科主题:
软件工具-测试
中图法分类号:
TP311.5
版本附注:
Pearson教育集团所属的Addison-Wesley授权出版
提要文摘附注:
本书讲述了嵌入式软件测试的一般过程,内容包括结构化测试和嵌入式系统的原理、测试生命周期、重要的应用技术、基础设施、测试组织形式和测试原则。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TP311.5/4244 70644062   临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70644065   临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70819708   临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70819711   临安密4(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密4(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70644063   临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70819709   临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70819710   临安密1(信息工程学院)(不可借)     非可借 临安密1(信息工程学院)(不可借)
TP311.5/4244 70644064   文一密集(批次1)(非可借)     非可借
TP311.5/4244 70819712   文一密集(批次1)(非可借)     非可借
TP311.5/4244 70644061   样本书阅览室(密集书库136)     非可借
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