- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027894-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 344页:图;24cm
- 其它题名:
- 测试压缩、测试功耗优化、测试调度
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 一般附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书内容涉及数字集成电路测试优化方法的三个主要方面：测试数据压缩、测试功耗优化、测试调度，包括测试数据压缩的基本原理、激励压缩的有效方法、测试响应压缩方法和电路结构等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN431.2/4621.2 | 71608378 | - |  自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621.2 | 71608379 | - | 自然书库（3F东）
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可借 |
| TN431.2/4621.2 | 71608380 | - | 自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621.2 | 71608381 | - | 自然书库（3F东）
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| TN431.2/4621.2 | 71608382 | - | 自然书库（3F东）
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