杭州电子科技大学图书馆书目检索系统

Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

表面分析技术/(英)约翰·C.维克曼(John C. Vickerman)，(英)伊恩·S.吉尔摩(Ian S. Gilmore)编 陈建[等]译

出版发行项:

广州:中山大学出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-306-06689-3 精装/CNY200.00

载体形态项:

530页:彩图，彩照，肖像;26cm

并列正题名:

Surface analysis: the principal techniques

个人责任者:

(英) 维克曼 (Vickerman, John C.) 编

个人责任者:

(英) 吉尔摩 (Gilmore, Ian S.) 编

个人次要责任者:

陈建 (1969-) 译

学科主题:

表面分析

中图法分类号:

O652

提要文摘附注:

本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。

豆瓣简介：