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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:47

题名/责任者:
DEM插值算法适应性理论与方法/张锦明著
版本说明:
第2版
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2021
ISBN及定价:
978-7-121-42273-7 精装/CNY149.00
载体形态项:
333页:图 (部分彩图);25cm
并列正题名:
Adaptability of DEM interpolation algorithm theory and method
丛编项:
空间建模与可视分析丛书
个人责任者:
张锦明
学科主题:
地理信息系统-空间信息系统-数字高程模型-数值分析-插值法
中图法分类号:
P208.2
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
责任者附注:
张锦明, 浙江金华人, 浙江工商大学计算机与信息工程学院副教授, 博士生导师。
书目附注:
有书目 (第327-333页)
提要文摘附注:
DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分, 原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度都是影响DEM精度的主要因素。插值算法作为其中的直接因素, 地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此, 从影响DEM插值精度的不同因素出发, 研究DEM插值算法的适应性问题, 对降低DEM插值的不确定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意义。本书围绕DEM插值参数、地貌类型适应性、采样数据分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
P208.2/186/2 60291051   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
P208.2/186/2 60291052   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
P208.2/186/2 60291053   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
P208.2/186/2 60291054   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
P208.2/186/2 60291055   临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)     可借 临安自科(N-Z)(2F)(信息工程学院)
P208.2/186/2 72427332   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
P208.2/186/2 72427333   自然科学第二书库(7F)     可借 自然科学第二书库(7F)
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