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MARC状态:审校 文献类型:西文期刊 浏览次数:148

题名/责任者:
IEEE Electron Device Letters.
ISSN:
0741-3106
中图法分类号:
TN6
中图法分类号:
TN
中图法分类号:
TN6
中图法分类号:
TP30
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN6/EI1 11027725 2008 v.29 no7-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11027730 2008 v.29 no1-6 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11026840 2007 v.5 no8-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11026839 2007 v.5 no1-6 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11020901 2006 V.27 NO.6-9 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11020902 2006 V.27 NO.2-5 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11020900 2006 V.27 NO.10-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11019829 2005 v.26,no.7-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11019590 2005 V.26,NO.1-6少4 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11018777 2004 (v.25,no.7-12) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11019348 2004 (V.25,No1-6) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11017987 2003 (v.24,no.1-12) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11017054 2002 (V.23,No.1-12) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11016694 2001 (v.22,No1-12) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 11018402 2000 (v.21,no.1-12缺10) 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E10005 1999 V.20,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E10004 1998 V.19,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
1995 V.16,NO.1-5;7-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E07096 1994 V.15,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E07095 1993 V.14,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TP30/EI1*5 00E05759 1991 V.12,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E05373 1990 V.11,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
1989 V.10,NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
1989 1992.V.13.NO.7-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
1989 1992.V.13.NO.1-6 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN/EI11*7 00E04746 1988 V.9.NO.1-12 外文过刊合订本库(11F)     非可借
TN6/EI1 00E04087 1987 V.8,NO.1-12 文献资源建设部(1F)     非可借
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