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题名/责任者:

电子器件和集成电路单粒子效应/曹洲, 安恒, 高欣编著

出版发行项:

北京:北京理工大学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-5682-9656-4 精装/CNY138.00

载体形态项:

458页:图;25cm

并列正题名:

Single event effects of electronic devices and integrated circuits

丛编项:

空间科学与技术研究丛书

个人责任者:

曹洲 编著

个人责任者:

安恒 编著

个人责任者:

高欣 编著

学科主题:

电子器件-单粒子态-研究

学科主题:

集成电路-单粒子态-研究

中图法分类号:

TN

一般附注:

“十三五”国家重点出版物出版规划项目 国家出版基金项目 国之重器出版工程 国防现代化建设

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理，试验测试的基础理论与方法，单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法，空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面内容。

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